期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

表面分析仪器及其技术进展（一）——表面表征

下载PDF

导出

摘要本述评综合了1997年1月到1998年10月期间国际上在表面表征领域的发展情况，着重强调了在下述领域的进展：各种探针技术系列：包括XPS和AES在内的电子能谱学：表面光学和X-射线技术等。

作者黄惠忠

机构地区北京大学物理化学研究所

出处《国外分析仪器技术与应用》 2001年第1期9-25,共17页 Foreign Analytical Instrumentation

关键词探针碳纳米管 X-射线光电子能谱表面分析仪器表面特征

分类号 TH838 [机械工程—精密仪器及机械]

引文网络
相关文献

1黄惠忠.表面分析仪器和技术进展（一）：XPS,UPS[J].国外分析仪器技术与应用,1995(4):10-19.
2刘德中,薛正鏐.三种实用表面分析仪器的一些进展[J].国外分析仪器技术与应用,1989(3):27-33.
3白春礼.原子力显微镜的研制及应用[J].中国科学院院刊,1990,5(4):340-343. 被引量：15
4黄惠忠.论表面分析[J].现代仪器,2002,38(1):5-10. 被引量：5
5光学分析仪器[J].中国光学,2002(2):106-106.
6黄惠忠.表面分析仪器与技术进展：———四,扫描探针显微术（SPM）（上）[J].国外分析仪器技术与应用,1999(1):9-26. 被引量：6
7黄惠忠.表面分析仪器及其技术进展之三：表面分析：XPS和AES[J].国外分析仪器技术与应用,2001(3):1-15. 被引量：1
8黄惠忠.表面分析仪器和技术进展：（三）XPS／AES组合[J].国外分析仪器技术与应用,1998(4):13-18.
9岛津表面分析仪器介绍[J].现代科学仪器,2001(4):61-61.
10黄惠忠.表面分析仪器和技术进展（三）：SIMS,AFM[J].国外分析仪器技术与应用,1996(2):9-16. 被引量：1

国外分析仪器技术与应用

2001年第1期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部