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同步辐射X射线和中子粉末衍射及 Rietveld精化(I)
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摘要
把Rietveld精化方法用于处理同步辐射X射线和中子粉末衍射数据,使得粉末试样的结构研究有很大发展.本文在简要介绍两种粉末衍射术和Rietveld方法之后,用实例描述它们在结构精化、解未知结构、沸石、有关微孔材料及磁结构材料测定中的应用.
作者
杨传铮
谢达材
Jonh M.Newsam
机构地区
中国科学院上海冶金研究所
宾夕法尼亚大学
Biosym技术有限公司
出处
《物理》
CAS
北大核心
1992年第11期659-665,共7页
Physics
关键词
粉末衍射法
同步辐射
X辐射
结构
分类号
O722.4 [理学—晶体学]
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物理
1992年 第11期
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