同步辐射X射线和中子粉末衍射及 Rietveld精化(I)

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摘要把Ｒｉｅｔｖｅｌｄ精化方法用于处理同步辐射Ｘ射线和中子粉末衍射数据，使得粉末试样的结构研究有很大发展．本文在简要介绍两种粉末衍射术和Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法之后，用实例描述它们在结构精化、解未知结构、沸石、有关微孔材料及磁结构材料测定中的应用．

作者杨传铮谢达材 Jonh M.Newsam

机构地区中国科学院上海冶金研究所宾夕法尼亚大学 Biosym技术有限公司

出处《物理》 CAS 北大核心 1992年第11期659-665,共7页 Physics

关键词粉末衍射法同步辐射 X辐射结构

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物理

1992年第11期

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