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集成电路的温度测试系统

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摘要 目前集成电路的发展日新月异,电路的复杂程度也越来越高,对于配套的测试系统也提出了很高的要求。
作者 汪建春
出处 《电子技术与软件工程》 2014年第13期125-126,共2页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
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