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集成电路的温度测试系统
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摘要
目前集成电路的发展日新月异,电路的复杂程度也越来越高,对于配套的测试系统也提出了很高的要求。
作者
汪建春
机构地区
江苏农林职业技术学院
出处
《电子技术与软件工程》
2014年第13期125-126,共2页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
关键词
集成电路
温度测试
感应器
控制电路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子技术与软件工程
2014年 第13期
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