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射线检测暗室处理对射线底片质量的影响因素及控制措施
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摘要
通过对暗室处理过程中影响因素的分析及控制措施,提高射线底片质量。
作者
陈洪旭
机构地区
佳木斯市特种设备检验研究所
出处
《中小企业管理与科技》
2014年第19期323-324,共2页
Management & Technology of SME
关键词
暗室处理
影响因素
控制措施
分类号
TB302.5 [一般工业技术—材料科学与工程]
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中小企业管理与科技
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