电致发光技术在非晶硅组件量产中的应用

本文基于电致发光(EL)的原理,利用红外检测的方法,检测出非晶硅电池中存在的隐性缺陷,如漏电及电阻不均等。实验表明,EL检测在非晶硅薄膜电池与晶体硅电池中存在较大差别,非晶硅EL图像中的暗斑多由漏电引起,大量暗斑使组件的功率大幅下降;非晶硅EL图像中没有晶体硅EL图像中的断栅、隐裂等现象;非晶硅EL图像要求更高清晰度和细节显示。针对这些差别,应在薄膜电池EL检测应用中优化EL检测设备。