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超净介质中颗粒污染物光学检测技术的进展 被引量:1

The development of optical technology on measuring particle impurity in ultrapure medium
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摘要 本文对超净介质中颗粒污染物光学检测的基本原理、技术特性、应用范围、技术现状及发展动向作了总体性阐述. The rapid development of science and technology and modern industry causes a demand for a higher level of the purity of many mediums, which, in turn, causes a demand for a higher level of the technology of measuring and controlling the impurities in mediums.This paper makes a general review of the basic principle, technical characters, applied fields,technical state and developing tendency of the optical technology of sizing particle impurity in ultrapure mediums.
出处 《华东工业大学学报》 1995年第2期60-68,共9页
关键词 超净介质 杂质控制 光学测量 颗粒污染物 ultrapure mediums impurity controlling particle optical measuring
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献1

  • 1童?嵩.颗粒粒度与比表面测量原理[M]上海科学技术文献出版社,1989.

共引文献6

同被引文献4

引证文献1

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