期刊文献+

IGBT直流特性的解析分析

下载PDF
导出
摘要 本文根据IGBT是由MOSFET驱动的宽基区晶体管模型,提出了对称型IGBT外延层参数的选取方法,推导出正向压降的解析表达式,并讨论了外延层参数、非平衡载流子寿命、单元图形和终端有效度诸因素对正向压降的影响。
作者 高玉民
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第6期24-29,共6页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献4

  • 1史常忻,超大规模集成电路工艺学,1987年
  • 2Hu C,IEEE Trans Electron Dev,1984年,31卷,12期,1693页
  • 3Chen X B,IEEE Trans Electron Dev,1982年,29卷,6期,985页
  • 4Hu C

共引文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部