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用红外微象拟定高可靠器件筛选条件 被引量:3

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摘要 红外微象技术是测量晶体管结温分布的最先进方法。本文对星用(G)CG462型微波晶体管,进行了不同功率强度与峰值结温分布的测量。由红外热象图取得管芯温度分布形貌,经计算机处理后建立了功率-结温的定量关系,参照最高结温175℃,拟定出合适的高温贮存和直流功耗的筛选条件,既能防止应力不足,又避免过应力失效。实践表明,红外微象技术对星用高可靠器件是非常理想的予筛手段。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第6期54-56,共3页 Semiconductor Technology
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  • 3朱德忠,顾毓沁.显微热像测试功率晶体管热性能[J].激光与红外,1996,26(2):134-135. 被引量:8
  • 4Frey R , Kane M . Temperature Effects Examined for Microwave Power - Transistor , Performance and Thermal - Design Considerations[J] . MSN & Communications Technology, 1985,(11): 112-117.
  • 5DONDON - E P. Thermal Transient Characterization of Electronic Assemblies by Infrared Thermography and DeltaVbeMeter Methods[A]. IEEE SEMI -THERM Symposium[C]. 1995.87 -91.
  • 6GJB33A-97.半导体分立器件总规范[S].[S].,..
  • 7GJB128A-97.半导体分立器件试验方法[S].[S].,..
  • 8SANTOSH P GAUR, DAVID H NAVON, ROBERT W TEERLINCK. Transistor Design and Thermal Stability [J] . IEEE Transactions on Electron Devices, 1973, ED-20: 6.
  • 9高光渤.峰值结温筛选与节能.节能技术,1984,(2):5-6.
  • 10FRANK F OETTINGER, SENIOR MEMBER, DAVID L BLACKBURN, et al. Thermal Characterization of Power Transistors [C] //IEEE Transactions on Electron Devices, 1976, ED-23: 8.

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