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残余应力与X射线

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摘要 残余应力对设备疲劳寿命有很大的影响,尤其对经过表面喷丸处理后的设备影响更大.X射线应力分析为测量材料近表层约10um深的残余应力提供了一种非破坏性测量方法.表层处理技术,象电解抛光,有利于评价材料残余应力沿深度方向的分布.可靠、精确的专门X射线应力分析仪,可使测量分析在0.5小时内完成.本文阐述了X射线应力分析法的原理,并举例说明了其应用.另外,对这一技术所涉及到的难点也进行了讨论.
出处 《河北电力技术》 1991年第1期59-62,共4页 Hebei Electric Power
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