期刊文献+

用AT89C51设计的绝缘性能测试仪 被引量:2

下载PDF
导出
摘要 本文介绍了一种采用ATMEL公司最新型内置FlashMemory的AT89C51单片机的智能绝缘电阻测试仪的设计方法。
作者 沈建华
出处 《微型电脑应用》 1996年第3期75-79,共5页 Microcomputer Applications
  • 相关文献

同被引文献2

引证文献2

二级引证文献7

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部