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光学探测器非线性度测试仪的研制 被引量：6

The Research on Optical Detector's Non-linearity Test System
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摘要 本文介绍了一种高精度的硅光电探测器线性度测量系统 ,给出了该系统的原理、结构和测量方法 ,分析了测量不确定度及适用范围 ,该系统可应用于精度要求高的光学探测器线性度的测量。 A kind of high precision silicon photo detector's linearity measurement system is described in this paper.The principle,structure and measurement method of the system is provided.The uncertainties and applied region is analyzed.The system can be used to measure optical detector's linearity with high precision requirement.
作者 姚和军 吕正 林延东
机构地区 中国计量科学研究院
出处 《现代计量测试》 2001年第2期31-35,共5页 Modern Measurement and Test
关键词 光学探测器 非线性度测试仪 线性度测量 原理 结构 测量方法 不确定度分析 optical detector non linearity test
分类号 TH744 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献

参考文献6

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  • 3[3]A.R. Schaefer, E. F. Zalewski, and J. Geist, Silicon detector nonlinearity and related effects, Applied Optics, Vol. 22, No. 8,1232(1983).
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  • 5[5]W. Budde, Multidecade linearity measurements on Si photodiodes, Applied Optics, Vol. 18, No. 10,1555 ( 1979).
  • 6[6]Fu Lei and J. Fisher, Characterization of photodiodes inthe UV and visible spectral region based on cryogenic radiometry,Metrologia, Vol. 31,297 ( 1993 ).

同被引文献30

引证文献6

二级引证文献17

现代计量测试
2001年 第2期

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