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关于外径千分尺0—1mm范围的示值检定的问题探讨

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摘要 通过对千分尺精度及塞尺测量极限误差等进行分析。
作者 李志宏
出处 《计量与测试技术》 1994年第6期8-9,共2页 Metrology & Measurement Technique
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