△TQ参烽测试仪的设计与实现

论述了“TCM－Ⅱ型温差电致冷组件△TQ参数测试仪”的设计原理、性能指标、硬件结构及软件设计。该仪的研制成功使半导体致冷组件的测试手段更新换代，测试精度大大提高，测试温度提高了4℃以上，废品误判率下降5％，测试速度较传统方法提高一倍多，是国内较先进的参数测试仪。