摘要
本文首先介绍了几种测试生成方法,然后分析了Mips RISC体系结构的存储管理以及高缓结构特点,提出了一种对基于R3000类型系统的高缓功能测试方法,并给出了相应的程序流图。
First of all, this paper introduces several test generation methods. Then it analyses the memory management and cache structure features of Mips RISC architecture, and gives a functional test method for the cache of one type of R3000 - based system. It gives some test flows.
出处
《小型微型计算机系统》
CSCD
北大核心
1992年第12期1-9,共9页
Journal of Chinese Computer Systems
关键词
高缓
功能测试
处理器
Cache Functional test Diagnostic Manual test generation