期刊文献+

赝高电子迁移率晶体管结构的光反射谱研究

Photoreflectance Studies of Pseudomorphic High Electronic Mobility Transistor Structures
下载PDF
导出
摘要 本文利用变温光反射谱和室温光伏谱研究了赝高电子迁移率晶体管结构中二维电子气的行为,发现二维电子气的屏蔽作用对低指数子带较为显著,而对较高子带则弱得多,同时带填充效应在不同温度下对临界点跃迁能量及跃迁强度也有不同影响. Abstract Using Photoreflectance spectra and photovoltaic spectra,we have studied the behavior of two dimensional electron gas in pseudomorpic high electronic moblity transistor structures.We find that the screening effect of two dimensional electron gas on lower index subbands is more significant than that on higher indea subbands. Meantime, bandfilling effets have different influence on the transition energy and strength of critical points at high temperatures and low temperatures.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期139-144,共6页 半导体学报(英文版)
  • 相关文献

参考文献4

  • 1江德生,Phys Stat Sol B,1993年,179卷,91页
  • 2Yin Y,Semicond Sci Technol,1993年,8卷,1599页
  • 3Yin Yichun,Appl Phys Lett,1992年,61卷,1579页
  • 4江德生,J Appl Phys,1988年,64卷,1371页

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部