GaAs MESFET大信号参数CAT系统

通过计算机产生窄脉冲来测试GaAsFET的I－V特性，能大大克服器件在直流状态下的热效应和电子陷阱效应，对器件大信号精确建模和器件机理分析具有重要意义。本文论述系统的硬件、软件设计和实际使用效果。