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可变频率时钟发生器及其测试技术
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摘要
本文介绍可变频率时钟发生器的逻辑结构、测试技术及编程。
作者
李国机
王文光
机构地区
上海冶金所微电子分部
出处
《微处理机》
1996年第1期92-93,共2页
Microprocessors
关键词
可变频率
时钟发生器
测试
集成电路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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