可变频率时钟发生器及其测试技术

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摘要本文介绍可变频率时钟发生器的逻辑结构、测试技术及编程。

作者李国机王文光

机构地区上海冶金所微电子分部

出处《微处理机》 1996年第1期92-93,共2页 Microprocessors

关键词可变频率时钟发生器测试集成电路

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微处理机

1996年第1期

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