摘要
本文以Ｈ－８００型透射电子显微镜为例，介绍了几例故障现象、故障分析及故障排除方法。
Taking H-800 electron microscope for example, this article introduces some faults appearance, faults analysis and method of faults exclusion.
出处
《中国仪器仪表》
2001年第2期45-45,共1页
China Instrumentation
关键词
电子显微镜
故障分析
故障排除
Electron microscope Faults analysis Faults exclusion
