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a-Si:H和a-Si_xN_(1-x):H光学特性的研究

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摘要 本文所用a_Si:H和a-Si_xN_(1-x):H薄膜是用辉光放电法制备而成的。薄膜中氮含量由淀积气体中氮气与硅烷气体体积比γ(=N_2/SiH_4)来控制。利用椭圆偏振光谱测定了a-Si:H和a-Si_xN_(1-x):H在波长为2000A~6000A的范围内的光学常数。着重研究了其光学参数随制备时的衬底温度T和γ而变化的变化规律。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1990年第1期29-33,共5页 Semiconductor Technology
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