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a-Si:H和a-Si_xN_(1-x):H光学特性的研究
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摘要
本文所用a_Si:H和a-Si_xN_(1-x):H薄膜是用辉光放电法制备而成的。薄膜中氮含量由淀积气体中氮气与硅烷气体体积比γ(=N_2/SiH_4)来控制。利用椭圆偏振光谱测定了a-Si:H和a-Si_xN_(1-x):H在波长为2000A~6000A的范围内的光学常数。着重研究了其光学参数随制备时的衬底温度T和γ而变化的变化规律。
作者
冯玉春
罗晋生
机构地区
西安整流器研究所
西安交通大学
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第1期29-33,共5页
Semiconductor Technology
关键词
a-Si:H材料
半导体薄膜
光学特性
分类号
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
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