美国国家标准与技术研究所强调测量工作对新兴技术的重要性

据美刊报道,未来十年中,许多新兴的电子学技术将在国际市场上获得广泛的商业应用.但是以微波、超导体、光波、高级成像方法、半导体和磁学为基础的新技术和新产品现在面临着一个共同的问题,即它们都需要更灵敏、更精确的测量方法。国家标准与技术研究所(NIST)最近公布的一份报告的主题就是讨论测量方法对于这些电子技术能否取得成功究竟有多大的重要性。