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新生儿缺氧缺血性脑病所致中枢神经系统损害的前瞻性研究 被引量:12

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摘要 新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是新生儿 时期最常见的颅内病变,常导致新生儿死亡及其后的神经系统发育异常。为进一步研究HIE 对中枢神经系统发育的影响,加强防治措施,我院儿科对住院的HIE存活儿进行3年的跟踪随 访,现将结果分析如下。 资 料 及 方 法   一、 临床资料 1996年1月~1996年8月我院儿科收治的头颅 CT证实为HIE的患儿41例,其中早产儿8例;男31例,女10例;在本院产科出生19例,外院或 农村分娩22例;Apgar评分≤3分7例,4分~7分18例(部分转入者评分不详);平均出生体重2 775g(1500g~4100g);平均入院时日龄3.1d(1h~18d)。根据1996年杭州会议修订的《新生 儿HIE诊断依据和临床分度》标准[1],本组患儿诊断为轻度19例,中度~重度22例 。 合并颅内出血24例,以其它新生儿疾病就诊13例。   二、 方法 头颅CT选用日 本产岛津X线计算机断层扫描机,一般在患儿自然睡眠状态下进行,不能入睡者予以10%水合 氯醛0.5ml~1ml口服后使其入睡。初次检查时间为日龄≥3d,临床分度轻型、CT检查低密 度影≤2叶不予以复查,其余均在28天、6个月、1岁、2岁和3岁时定期随访。   1岁时全部患 儿进行DDST筛查,异常、可疑者跟踪随访至3岁,满3岁时全部患儿再次筛查。
出处 《临床儿科杂志》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期112-113,共2页 Journal of Clinical Pediatrics
基金 海南省省级科技攻关项目
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