三种检材的直接免疫荧光检查诊断口腔天疱疮

Diagnosis of oral pemphigus by direct immnofluorescence on three different samples

目的 对口腔损害的黏膜组织、损害缘的分离上皮组织 (不含基底细胞层 )、损害面的脱落细胞涂片作直接免疫荧光 (DIF)检查 ,以评估这 3种检材对诊断天疱疮的可靠性。方法 收集 2 8例口腔天疱疮 ,每一患者同时作上述 3种取材的DIF检查。结果 2 8例黏膜组织及分离上皮组织标本的DIF检查全部阳性 (IgG) ,而 2 8例脱落细胞涂片标本只有 2 4例阳性 (IgG)。结论 黏膜组织与分离上皮组织作DIF检查以诊断天疱疮 ,两者的可靠性相同 ,但后者取材明显比前者容易 ;脱落细胞涂片作DIF检查的可靠性差 ,不宜作诊断天疱疮的DIF底物。