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积层多层板Cu电路的可靠性注意点

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摘要 1 前言随着电子机器的小型化和多功能化,构成电子机器的 PGB 或 IC 等部品正在迈向轻薄短小化、超微细化和高集成度的方向。笔记本 PC、携带电话、携带终端和视频摄像等使用的 PCB 或MCM、BGA、CPS 等正在采用超微细布线图形的多层板,因此制造这种多层板的积层多层板(BUM)工艺特别引人注目。图1表示了 IC 设计规则与裸 IC 引线间距,封装引线间距或球间距和 BUM 布线间距的变迁。多层板最外层的布线图形间距必须适应 COB 或 FC 等裸芯片直接安装时的 IC 凸缘间距,TCP 安装时 TCP
作者 蔡积庆
出处 《印制电路信息》 2000年第7期29-34,共6页 Printed Circuit Information
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参考文献4

  • 1石井正人.工レクトロニクス实装学会志.V01.No2.1998.
  • 2K.Minter, J.Toth: "PWB Interconect Strategy Using a Full Build Electroless Copper Plating System" Circuit World,vol. 17,No4.pp. 19-23,1991.
  • 3Haruo Akahoshi, et al. : "Fine Line Manufacturing Technology with Electroless Copper Plating, IEEE Transaction on Components, Packaging and Manufacturing Technology part-A, V01.18,Noll .P127.1995.
  • 4冈村寿郎,石丸敏明.“高密度线路形成用的加成技术”.サ一キツトテクノロジ,Vo1.7,P322.1992.

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