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新兴的通用无夹具测试 高密度测试技术之五
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摘要
为了克服传统的测试技术与设备的局限,满足 HDI 测试要求,测试设备的开发者们可谓八仙过海,各显神通。除了我们提到的针床的不断发展,飞针的异军突起和电子束的出现,其他的测试技术也大量涌现,比如:通用无夹具测试(UFT,UniversalFixtureless Tester),等离子体测试等。现在我们再介绍通用无夹具测试技术。
作者
李海
出处
《印制电路信息》
2000年第4期43-45,共3页
Printed Circuit Information
关键词
高密度测试技术
测试原理
UFT
夹具
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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