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ESD保护电路 被引量:1

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摘要 静电放电(ESD)常常是导致设备损坏的根源之一,这些设备通常安装在工厂的地面或现场。由于这种失效常常表现为其它类型的故障,因此很难找到真正的故障原因。例如在制造过程中,终检时的不合格产品往往可以追踪至一个损坏的元件或组件,经过进一步研究后会发现是OEM制造或测试中的某道工序使其遭到了ESD侵袭。
机构地区 Maxim公司
出处 《今日电子》 2001年第5期13-14,共2页 Electronic Products
  • 相关文献

同被引文献6

  • 1王长河 电子工业部可靠性管理办公室.微电子器件抗恶劣环境可靠性设计技术.微电子技术可靠性设计技术文集[M].,1997.1-25.
  • 2吕宗森 电子工业部可靠性管理办公室.CMOS集成电路可靠性设计--针对主要失效模式的设计对策.微电子技术可靠性设计技术文集[M].,1997.26-36.
  • 3张家斌 电子工业部可靠性管理办公室.模拟MOS集成电路抗静电技术研究.微电子技术可靠性设计技术文集[M].,1997.37-44.
  • 4庄弈琪 郝跃 等.VLSI电路的可靠性模拟.微电子技术可靠性设计技术文集[M].,1997.74-79.
  • 5于宗光.CMOS集成电路的ESD设计技术[J].电子产品可靠性与环境试验,2001,19(2):16-21. 被引量:9
  • 6于宗光.亚微米CMOS集成电路ESD保护新结构[J].微电子技术,2001,29(3):6-17. 被引量:4

引证文献1

二级引证文献1

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