摘要
分析了开关电源中功率场效应晶种管损坏的主要原因 。
It analyzes the main damaged reasons of power field effect transistors in switch power supplies and presents the solving methods in correspondence with those damages.
出处
《辽宁工学院学报》
2001年第2期27-28,共2页
Journal of Liaoning Institute of Technology(Natural Science Edition)
