摘要
本文通过对用光电转换综合测量仪所测出的光电二极管的特性的实验数据、特性曲线的讨论，验证了光电二极管的光照特性、伏安特性以及光谱特性。
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
2000年第Z01期247-251,共5页
Acta Photonica Sinica
同被引文献4
-
1Hideaki YAMAGISHI,Yasuyuki SUZUKI,Akio HIRAIDE.Precise measurement of photodiode spectral responses using the calorimetric method [J].IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,1989,38(2):578-580.
-
2M.KOBAYASHI,T.SHIRAI,T.KANEDA.High reliability planar InGaAs avalanche photodiodes[A].Electron Device Meeting[C].Washington DC:IEEE,1989.729-732.
-
3M.Ye.BELKIN,M.V.EYNASTO.Measurement of photodiode frequency characteristics by means of a physical equivalent circuit [J].Telecommunications and Radio Engineering, Part2(Radio Engineering),1989,44(12):91-94.
-
4潘永惠,徐标,朱小松.光电二极管暗电流温度特性的测量[J].南京师大学报（自然科学版）,1999,22(2):40-43. 被引量：8
-
1乔维.光电二极管特性研究[J].中国科技信息,2014(13):145-146. 被引量：2
-
2刘栋,谢泉,房迪.光敏电阻的特性研究[J].电子技术与软件工程,2016(20):149-150. 被引量：2
-
3徐渭元.国产调幅广播综合测量仪功能、性能的评述[J].广播与电视技术,2006,33(4):110-112.
-
4光电池基本特性[J].能源与节能,2013(6):16-16.
-
5吕永良,周世平,徐得名.高电子迁移率晶体管的光照特性分析[J].上海大学学报（自然科学版）,2000,6(5):415-419.
-
6赵晖,蒲元培,黄文奇,杨虹.简易发光二极管测试仪的设计研究[J].现代电子技术,2012,35(21):164-166. 被引量：6
-
7舒秦,王瑞平,孙向红.光敏电阻特性的研究[J].西安科技学院学报,2000,20(4):377-379. 被引量：16
-
8贾虎.综合性实验—“CdS光敏电阻光照特性的测试与应用”的设计[J].物理与工程,2008,18(1):39-42. 被引量：6
-
9徐蓓蓓,宦强.新型光电信号转换特性实验仪的研制[J].物理实验,2010,30(1):17-19.
-
10宋清,黄美浅,李观启.硅衬底Ba_(1-x)Sr_xNb_yTi_(1-y)O_3薄膜光敏特性的研究[J].应用光学,2005,26(5):45-49. 被引量：2
