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薄膜生长的多重分形谱的计算 被引量:23

MULTIFRACTAL CALCULATION OF THIN FILM GROWTH
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摘要 规则分形具有理想的标度不变性 ,而随机分形 (如薄膜生长 )概率分布曲线及标度不变性的范围与计算方法有关 :以偏离平均高度的方差值求概率 ,标度不变性不好 ,多重分形谱也不光滑 ;而以薄膜平均底面为基准面求概率得到的标度不变性可延伸到 3个数量级 ,多重分形谱光滑 .采用外延的方法修正灰度设置的偏移可以对多重分形谱有所改善 .另外 ,讨论了权重因子 q取值范围的影响 ,确定了 q的取值范围 . Regular fractal has ideal scale-invariance.But the probability distribution curve and the range of scale-invariance of random fractal(for example thin film growth)are related to the calculation method.The scale-invariance is not good and the multifractal spectrum is not smooth when the probability is calculated by variance from average height.The range of scale-invariance can be extend to 3 orders of magnitude and the multifractal spectrum is smooth when the probability is calculated by height based on the bottom of the film.An extending method is here used to correct the deviation of gray level setting-up so as to improve the multifractal spectrum.The effect of the range of the moment order q is discussed as well. [
出处 《计算物理》 CSCD 北大核心 2001年第3期247-252,共6页 Chinese Journal of Computational Physics
关键词 多重分形谱 标度不变性 权重因子 薄膜生长 随机分形概率分布 multifractal spectra scale-invariant the moment order
  • 相关文献

参考文献7

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二级参考文献9

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  • 5王坚,物理,1992年,21卷,747页
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  • 9王晓平,电子显微学报

共引文献20

同被引文献229

引证文献23

二级引证文献160

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