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合肥同步光源增加光刻基片曝光面积方法研究

Enlarging the Exposure Area in X-ray Lithography for HLS
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摘要 根据以水平磁场控制束团垂直闭轨和垂直发散角 ,设法增加光刻基片曝光面积的思想 ,对合肥同步辐射光源进行分析 ,提出了适用方案 .指出在合肥同步辐射光源上用两个现有的垂直校正铁 ,只要加上不大的水平磁场 ,即可使光刻基片的曝光面积增大 2 4倍 ,达到所需要求 ,且在该两个校正铁以外的闭轨不发生畸变 . A method of enlarging the exposure area in soft Xray lithography for HLS is suggested. By using two existent vertical correct magnets with horizontal field less than 100 Gauss, the exposed area of the Xray lithography wafer increases from 3 5mm to 14mm and no distortion occurs in the closed orbit out of the two magnets.
机构地区 深圳大学理学院
出处 《深圳大学学报(理工版)》 EI CAS 2001年第2期23-27,共5页 Journal of Shenzhen University(Science and Engineering)
关键词 曝光面积 闭轨畸变 水平磁场 集成电路 光刻 同步辐射光源 光刻基片 exposed area distortion of the closed orbit horizontal magnetic field
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参考文献3

二级参考文献1

  • 1何多慧,深圳大学学报,1997年,14卷,1期

共引文献1

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