直接电位分析法的定位校准和斜率校准

Orientation and Slope Calibration in Ion- selective Electrode Potentiometry

本文阐述了直接电位分析法定位和斜率校准的理论与测量原理。Eemf pM标准曲线法不必考虑定位和斜率校准问题 ;单点定位pMX 直读法 ,只进行定位校准 ,没有完全校正电极理论与实际斜率不一致所产生的测量误差 ;双点定位pMX 直读法在pMS1～pMS2 之间同时进行定位与斜率校准 。