摘要
本文以 Philips PW140 4型 X射线荧光光谱仪的使用为例 ,应用数理统计理论 ,提出了一种仪器运行状态检查的方法 ,该方法具有简便、快速的特点 ,非常适合生产要求。
A mathematical statistics method was presented to testing instrument's state,for example testing XRF spectrometer's state in this paper.This method has advantages of easy operation,rapid and accuracy,it is very suitable for production demand.
出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2001年第4期534-535,共2页
Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory