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数理统计方法在仪器运行检查中的应用

Application of Mathematical Statistics to Instrument State Test
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摘要 本文以 Philips PW140 4型 X射线荧光光谱仪的使用为例 ,应用数理统计理论 ,提出了一种仪器运行状态检查的方法 ,该方法具有简便、快速的特点 ,非常适合生产要求。 A mathematical statistics method was presented to testing instrument's state,for example testing XRF spectrometer's state in this paper.This method has advantages of easy operation,rapid and accuracy,it is very suitable for production demand.
作者 彭宇
出处 《光谱实验室》 CAS CSCD 2001年第4期534-535,共2页 Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory
关键词 数理统计 运行检查 分析仪器 X射线-荧光光谱法 工作状态 Mathematical Statistics,State Test,Significance Difference.
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参考文献7

  • 1(前苏联)纳利莫夫 余生等(译).数理统计方法在化学、光谱分析中的应用(第1版)[M].北京:《光谱实验室》编辑部,1987.54-141.
  • 2罗重庆.X-射线荧光光谱分析(第1版)[M].长沙:中南工业大学教材科,1994.54-83.
  • 3罗重庆,X 射线荧光光谱分析,1994年,54页
  • 4中华人民共和国国家标准汇编 .统计分布数值表 F分布 .GB40 86 .4— 83,1989年,561页
  • 5中华人民共和国国家标准汇编 .统计分布数值表 t分布 .GB40 86 .3— 83,1989年,545页
  • 6中华人民共和国国家标准汇编 .统计学名词及符号 .GB 335 8— 82,1988年,99页
  • 7余生(译),数理统计方法在化学、光谱分析中的应用,1987年,54页

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