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IC的测试方法

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摘要电子技术的飞跃发展,使各种IC层出不穷,为使用提供了很大的选择余地,方便了各类电子产品的设计,但是,也为IC的检测和选购带来了一些新问题.

作者陈杰

出处《家用电器》 2001年第6期49-50,共2页 Home Appliance

关键词集成电路测试万用表 IC 电位器

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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家用电器

2001年第6期

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