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“转折点”的寻找

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摘要 投影式测长机在瞄准时需要寻找“转折点”。本文介绍几种不同被测面测量时“转折点”的寻找方法。
作者 陈利平
出处 《计量技术》 1991年第8期5-7,共3页 Measurement Technique
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