数字设备防静电测试综述

随着电子计算机及外部设备速度和复杂性的飞速发展,它们对静电放电现象所产生的破坏,以及对所产生的噪声越来越敏感。目前,国内各种出版物中,对静电危害及共预防进行了不同层次探讨,但所涉及的主要是半导体及集成电路方面,而对数字设备整机的防静电问题涉猎不多。本文主要阐述数字设备整机防静电性能的测试和有关标准。