期刊文献+

密封半导体器件内部水汽含量的控制 被引量:10

The control of steam content in the sealed devices
下载PDF
导出
摘要 叙述了器件内部水汽含量的来源和对可靠性的影响,采用控制技术后达到了良好的效果。 This Paper describes the resources of steam in the sealed devices, and analyses the effects of steam on the devece relibility. The good results was gotten by using the relative control technology.
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第7期56-58,共3页 Semiconductor Technology
关键词 半导体器件 水汽含量 可靠性 密封 semiconduct devices steam content relibility
  • 相关文献

同被引文献33

引证文献10

二级引证文献40

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部