摘要
文章以参照测试为理论基础、以 MCU设计为实例，阐述了在使用 Verilog HDL进行 MCU设计过程中如何利用高级语言 C描述的 MCU模型参与测试自动化的方法。
According to the theory of referrence testing and a instance of MCU design,this thesis discusses an test automation method by using MCU model described by C language,in the process of MCU design by Verilog－ HDL.
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第4期12-15,共4页
Microelectronics & Computer
基金
国家自然科学基金资助( 6987010)
高等学校博士学科点专项科研基金( 98035901)
安徽省自然科学基金( 98324021)
关键词
测试自动化
专用集成电路
微控制器
设计
Referrence testing, MCU design, Verilog－ HDL, C model, Test automation
