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引线框架电镀层测定方法的选择

How to Select Measuring Ways of Lead Frame Plating Layer
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摘要 引线框架电镀层的质量直接影响着钽电容器的可焊性 ,所以引线框架电镀层质量的测定方法至关重要。通过对比试验认为对框架切片后使用电子探针仪探测和拍照的测定方法能够全面准确地测定出引线框架镀层的质量。 The Quality of lead frame plating layer directly affects the solderability of tantalum capacitor, so its measuring methods are very important. The comparison experiments showed that the quality of the plating layer can be measured exactly by detecting and taking picture of the lead frame cutting sample
作者 李天生
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年第4期31-33,共3页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 引线框架 电镀层 测试方法 钽电容器 tantalum capacitor lead frame plating layer measuring ways
  • 相关文献

参考文献5

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  • 3[3]MIL-STD- 883 E- 1987, METHOD 2022.2 WETTING BALANCE SOLDERABILITY[S].
  • 4[4]GB 2423.32-85,电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法[S].
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