摘要
主要介绍二代近贴微光管 MCP电子清刷技术研究结果 ,结合质谱分析对
The researched results of the electron cleaning technique for Gen.2 proximity tube microchannel plate are given.The effect of the residual gas from MCP on the photoemission of photocathode is discussed.
出处
《应用光学》
CAS
CSCD
2001年第4期23-25,22,共4页
Journal of Applied Optics
关键词
近贴微光管
微通道板
电子清刷
光电发射
proximity tube
microchannel plate,electron cleaning,photoemission