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大电流冲击下MZ23样品炸裂的原因分析

The analysis of the MZ23 samples on burst struck by a large current
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出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2001年第4期416-417,共2页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
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参考文献2

  • 1周东祥,半导体陶瓷及应用,1991年
  • 2周东祥,PTC 材料及其应用,1989年

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