摘要
设指数寿命型元件有成败型试验数据 :在ti 时刻随机抽取Ni 个元件试验 ,结果无失效元件。基于试验数据 (ti,Ni,Ni) (i=1,k) 。
Suppose that the exponential life type component that the number of successed test is N i when time t=t i(i=1,2,...,k) and there is no false test. We discussed the confidence limits of reliability for the exponential life component and some system.
出处
《工程数学学报》
CSCD
北大核心
2001年第3期65-70,共6页
Chinese Journal of Engineering Mathematics
基金
江苏省教委自然科学基金资助项目 (99KJB110 0 0 8)