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能量辐射对低密度聚乙烯膜体积电阻率特性的影响
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摘要
本项研究围绕用高能电子束照射过的低密度聚乙烯薄膜(LDPE)的体积电阻率特性进行。通过DSC分析,经电子束照射后的样品晶粒熔融点低于原样品。已证实体积电阻率在60℃至晶粒熔点的温度范围内随温度上升而增大,原因在电子束照后产生的固体结构缺陷以及许多体积中心形式的影响。而当温高于熔点时,体积电阻率又随之降低,原因在于晶粒的熔融。
作者
肖立
出处
《电瓷避雷器译丛》
2000年第47期65-69,共5页
关键词
低密度聚乙烯薄膜
体积电阻率
能量辐射
绝缘材料
分类号
TM215.3 [一般工业技术—材料科学与工程]
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电瓷避雷器译丛
2000年 第47期
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