摘要
利用1997～1999年GOES卫星的耀斑观测资料以及国际GPS网的GPS观测资料, 对作为耀斑参数之一的耀斑日面位置与电离层SITEC的关系进行了分析. 结果表明: 除了耀斑的X射线最大辐射通量, 耀斑日面位置也是影响TEC增幅的一个重要参数. 一个X射线最大辐射通量较小但其太阳经度角较小的耀斑对电离层的影响可能会强烈于X射线最大辐射通量较大但其经度角较大的耀斑. 当X射线最大辐射通量相近时, 耀斑距日面中线的经度角越小, 耀斑对电离层的影响越大.
出处
《科学通报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第16期1339-1341,共3页
Chinese Science Bulletin
