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0.6—2.75MeV质子引起的Ta、Au和Bi的M壳层X—线产生截面

M-shell X-ray Production cross Sections for Ta,Au and Bi by 0.6-2.75 MeV Proton Bombardment
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摘要 用0.6~2.75MeV质子轰击Ta、An和Bi薄靶,测得M—壳层X—线产生截面。实验结果与平面波玻恩近似(PWBA)理论计算值作了比较。 The thin target M-shell X-ray producion cross sections have beenmeasured for Ta, Au and Bi with impact over the energy from 0.6 to 2.75MeV. The measured cross secions are compared with the plane wave Bornapproximation (PWBA) theory.
出处 《兰州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1991年第4期60-63,共4页 Journal of Lanzhou University(Natural Sciences)
关键词 质子 M-壳层 电离截面 Ta Au Bi M-sdell ionization cross sections
  • 相关文献

参考文献2

  • 1刘兆远,Nucl Inst Meth Phys Res,1989年,843卷,162页
  • 2Cai Xiaohong,Vacuum,1989年,39卷,1期,393页

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