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冲击电压作用下影响表面电荷积聚过程的因素分析 被引量:16

Analysis of Factors Influence Charge Accumulation on Insulator Surface under Impulse Voltage
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摘要 建立了电压与表面电荷分布的动态方程 ,引入了电荷积聚时间常数的概念。从理论上证明了冲击电压作用下绝缘子表面可以产生一定量的电荷积聚 ,并对影响表面电荷积聚过程的因素进行了分析 ,理论分析结果得到了已往文献实验结果的证实。 The dynamic equation describing the relationship between surface charge density and voltage is established. The time constant of charge accumulation is introduced. The present theoretical analysis explains why surface charging occurs under impulse voltage, and finds out the factors that influence the process of charge accumulation. The result is supported by the measurements in some previous investigations.
机构地区 西安交通大学
出处 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第5期51-54,10,共5页 Transactions of China Electrotechnical Society
基金 国家自然科学基金资助项目 ( 5 980 70 0 6 )
关键词 绝缘子 表面电荷 电荷积聚 冲击电压 Insulator Surface charge Charge accumulation Impulse voltage
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献8

  • 1邱毓昌,GIS装置及其绝缘技术,1994年
  • 2Fujinami H,IEEE Trans Power Delivery,1989年,4卷,3期,1765页
  • 3陈季丹,电介质物理学,1982年
  • 4Jing T,IEEE Trans DEI,1995年,2卷,5期,771页
  • 5邱毓昌,GIS装置及其绝缘技术,1994年,44页
  • 6Jing T,学位论文,1993年
  • 7Srivastava K D,IEEETransonEI,1991年,26卷,3期,428页
  • 8刘志民,邱毓昌,冯允平.对绝缘子表面电荷积聚机理的讨论[J].电工技术学报,1999,14(2):65-68. 被引量:47

共引文献59

同被引文献127

引证文献16

二级引证文献146

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