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稀磁半导体Zn_(1-x)Mn_xSe/GaAs外延膜光学特性研究

Optical Studies on Epitaxy Films of Diluted Magnetic Semiconductor Zn_(1-x)Mn_xSe/GaAs
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摘要 研究了用热壁外延法在GaAs衬底上生长的不同x含量的Zn1-xMnxSe薄膜 .通过X射线衍射和喇曼光谱的研究表明 ,晶体的质量取决于Mn的含量 ,随着Mn的含量的增高 ,晶体的质量下降 . Zn 1-x Mn xSe films with different composition x grown by hot wall epitaxy are studied.The results of X ray diffraction and Raman show that the crystalline perfection is related with the Mn content and deteriorated as the Mn content increases.
出处 《长沙水电师院学报(自然科学版)》 2001年第3期64-66,共3页
关键词 X射线衍射谱 喇曼光谱 稀磁半导体 Zn1-xMnxSe薄膜 镓砷衬底 光学特性 X ray diffraction Raman spectrum coherence length
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献2

  • 1王杰,真空科学和技术,1990年,10卷,4期,240页
  • 2Yao T,Jpn J Appl Phys,1977年,16卷,369页

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