等离子体发射光谱法同时测定工业硅中铁、铝、钙

本文叙述了用ICP-AES法对不同级别出口工业硅中规定的杂质元素Fe,Al,Ca的测定方法。称取0.4克样品用HF-HNO_3-H_2SO_4分解,残留物用稀盐酸溶解,定容于100毫升量瓶中,吸取25毫升于50毫升量瓶中,用水稀释至刻度,用PlasmaⅡ型发射光谱仪测定,精密度均在5%以下。用本法和国标指定方法进行成对试验,用数理统计方法作F检验和t检验,证明两种方法无显著性差异。