摘要
通过两束平面偏振光的合成推导出椭偏测量的理论基础 ,并由此得出用λ/ 4波片测晶体的相位延迟时器件的设置及方法。
The theory of ellipsometry is obtained through the composition of two polarized beams.Then the method for phase retardation measurement with λ/4 wave-plate is obtained.
出处
《激光技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期328-330,共3页
Laser Technology
关键词
偏振光
滤片
相位延迟
光学
polarized beam wave-plate phase retardation