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强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究
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摘要
为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应 ,在GTEM室内进行了辐照效应实验。实验表明 ,单片机系统在强电磁脉冲作用下 ,会出现“死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象。在实验基础上 ,对单片机系统的各种效应进行了深入研究。
作者
侯民胜
陈亚洲
机构地区
军械工程学院静电与电磁防护研究所
出处
《航天电子对抗》
2001年第5期45-48,共4页
Aerospace Electronic Warfare
关键词
强电磁脉冲
单片机系统
辐照效应
"死机"效应
A/D转换误差
电子兼容性
分类号
TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TN03 [电子电信—物理电子学]
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航天电子对抗
2001年 第5期
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