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强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究
被引量：
4
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摘要
为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应，在GTEM室内进行了辐照效应实验。实验表明，单片机系统在强电磁脉冲作用下，会出现“死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象。在实验基础上，对单片机系统的各种效应进行了深入研究。
作者
侯民胜
陈亚洲
机构地区
石家庄军械工程学院静电与电磁防护研究所
出处
《电子技术应用》
北大核心
2001年第8期9-11,共3页
Application of Electronic Technique
关键词
强电磁脉冲
单片机
辐照效应
电磁兼容
微机
分类号
TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
引文网络
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电子技术应用
2001年 第8期
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