摘要
用氦质谱加压真空法检测双密封结构产品漏率时 ,常有“缓慢升高”现象的发生 ,必需解决这一读数困难的问题。建立了双密封结构泄漏过程的数学模型 ,从而在理论上解释了此类现象发生的原因 ,并编制程序后对一些具体结构进行了分析计算。
Climbing' phenomenon in detecting the leak of double_sealed product often troubles us.A mathematics model for the leaking process is proposed.In addition,a program is given to calculate a concrete structure. It is useful to make certain the leak detecting time and data processing method.
出处
《真空与低温》
2001年第3期185-186,共2页
Vacuum and Cryogenics
